Eignungsnachweise bei attributiven Prüfprozessen
Dieses Whitepaper bildet den ersten Teil einer dreiteiligen Reihe zu attributiven Prüfprozessen. Es vermittelt die zentralen Begriffe, grundlegenden Voraussetzungen und relevanten Richtlinien für den Eignungsnachweis. Zudem erfahren Sie, weshalb die sorgfältige Auswahl von Prüf- und Referenzlosen für zuverlässige Ergebnisse von entscheidender Bedeutung ist.
Die Whitepaper‑Reihe vermittelt sowohl grundlegende als auch weiterführende Methoden für attributive Prüfprozesse. Die Autoren, Dipl.-Ing. Stephan Conrad und Frank Platte, erläutern zentrale Begriffe, statistische Verfahren sowie praktische Ansätze zur Bewertung und Optimierung von Prüfprozessen.
Behandelte Inhalte:
- Grundlagen und Definitionen attributiver Prüfprozesse
- Voraussetzungen für den Eignungsnachweis, einschließlich der Auswahl von Prüf- und Referenzlosen
- Methoden für diskrete und diskretisierte Merkmale
- Gegenüberstellung wichtiger Richtlinien wie VDA Band 5, AIAG MSA und Bosch Heft 10
- Praxisnahe Beispiele und Empfehlungen aus der Expertenperspektive
Die Reihe gliedert sich in drei aufeinander aufbauende Teile:
- Teil 1: Einführung in attributive Prüfprozesse – Grundlagen, Begriffe und erforderliche Voraussetzungen
- Teil 2: Eignungsnachweise für diskrete Merkmale – unter anderem Kappa, Short Method und Effektivitätskennzahlen
- Teil 3: Eignungsnachweise für diskretisierte Merkmale – einschließlich Signalerkennung, Analytischer Methode und Besonderheiten bei kamerabasierten Systemen
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