12.02.2026
Neuer Fachartikel: Eignungsnachweise bei attributiven Prüfprozessen
Die Whitepaper‑Reihe vermittelt sowohl grundlegende als auch vertiefende Methoden für attributive Prüfprozesse. Die Autoren, Dipl.-Ing. Stephan Conrad und Frank Platte, geben einen umfassenden Einblick in wesentliche Fachbegriffe, statistische Vorgehensweisen sowie praxisorientierte Konzepte zur Bewertung und Optimierung von Prüfprozessen.
Thematische Schwerpunkte:
- Einführung in grundlegende Definitionen und Prinzipien attributiver Prüfprozesse
- Bedingungen für den Eignungsnachweis, inklusive Auswahl geeigneter Prüf- und Referenzlose
- Verfahren für Merkmale, die diskret oder diskretisiert vorliegen
- Vergleich bedeutender Richtlinien wie VDA Band 5, AIAG MSA und Bosch Heft 10
- Praxisbeispiele und konkrete Handlungsempfehlungen aus Sicht der Fachautoren
Die Reihe besteht aus drei logisch aufeinander aufbauenden Teilen:
Teil 1: Grundlagen attributiver Prüfprozesse – zentrale Begriffe, Einstiegswissen und notwendige Rahmenbedingungen
Teil 2: Eignungsnachweise für diskrete Merkmale – unter anderem Kappa, Short Method und Kennzahlen zur Effektivität
Teil 3: Eignungsnachweise für diskretisierte Merkmale – inklusive Signalerkennungsverfahren, Analytischer Methode und Besonderheiten bei kamerabasierten Systemen